待測物濃度之測定方法及套組

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

107130488

專利證號

I 684756

專利獲證名稱

待測物濃度之測定方法及套組

專利所屬機關 (申請機關)

國立中正大學

獲證日期

2020/02/11

技術說明

本發明提供一種待測物濃度之測定方法，其包含：使其中包含待測物的待測溶液與其中包含複數個奈米粒子之奈米粒子溶液以及光波導元件反應以形成三明治結構；以及利用光偵檢器測量該複數個奈米粒子形成三明治結構後之吸收或散射該光波導元件的漸逝波能量以獲得第一訊號，並透過該第一訊號算出待測物濃度，其中每一個奈米粒子的表面上皆修飾有偵測辨識元，且光波導元件的表面上修飾有捕獲辨識元。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術移轉授權中心

連絡電話

05-2720411轉16001

網址