利用節點彼此自動排斥與吸引加總向量來校正基因互動網路圖以呈現基因晶片分析結果的方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

105111265

專利證號

I 594143

專利獲證名稱

利用節點彼此自動排斥與吸引加總向量來校正基因互動網路圖以呈現基因晶片分析結果的方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣師範大學

獲證日期

2017/08/01

技術說明

本發明為一種不同於舊有方式來將生物晶片分析結果進行視覺化的演算法。 其中步驟為： 1. 挑出在晶片分析結果中具有高度研究指標的基因並計算相關係數矩陣 2. 根據相關係數矩陣計算基因網絡圖中節點之間理想距離 3. 利用理想距離與實際距離差距計算所有節點承受的推、拉力向量。 4. 以迴圈方式重複計算最新推拉力向量並校正各節點座標，待各節點位置趨向平衡時，網絡中所有節點間的距離便可表示各個基因彼此相關性。 本演算法程式撰寫容易，且可完整表示生物晶片的多維結果，係極具實作潛力的生物晶片結果呈現方式。 The invention combined an algorithm which constructing the position of each node in gene-network graphing with visualization of microarray analysis The graphics gives a complete and clear view on analysis of microarray, and the algorithm is easy to implement in many programming languages. It might be a powerful method of visualization of microarray data.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作組

連絡電話

77341329

網址