發明
中華民國
105113173
I 605622
電阻式記憶體
國立中山大學
2017/11/11
本發明揭示一種電阻式記憶體,用於解決習知記憶體的可靠度不佳問題,該電阻式記憶體包含:二電極,係相互分離;一圍阻體,係設有一通道;及一含氧變阻層,係阻絕該圍阻體的通道,該二電極及該圍阻體共同包夾該含氧變阻層,構成該二電極及該圍阻體的元素均不含氧。藉此,可確實解決上述問題。 This invention discloses a resistance random access memory which is used to solve a problem of bed reliability of the known memory. The resistance random access memory comprises two electrodes to separate each other, a surround member having a passageway and a variable resistance layer containing oxygen used to obstruct the passageway. The electrodes and the surround member clips around the variable resistance layer containing oxygen together. The element of constructing the electrodes and the surround member excludes oxygen. Thus, it can actually resolve the said problem.
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