發明
中華民國
100147173
I 445316
鎖相迴路裝置
國立臺灣大學
2014/07/11
我們實現了一個低相位雜訊鎖相迴路。我們使用了次諧波注入之技巧去壓抑振盪器之相位雜訊。次諧波注入鎖相迴路目前具有的問題是注入點之不確定性,容易受製程環境的因素影響及改變。我們提出了一個電路校正技巧去校正其注入時間點,確保電路之穩定性。此外,我們使用頻率偵測器和偵測電路器,提出了一個注入時間點校正之技巧去對齊振盪器之最佳注入點,使得此次諧波鎖相迴路系統可以穩定。量測到的相位雜訊可以降低,而方均根抖動可以改善。 It introduces a low phase noise PLL. Subharmonically injection-locked technique is employed to suppress VCO accumulation noise. Besides, we propose a injection timing calibration technique to align the injection pulse with optimal injection point, which ensures subharmonically injection-locked PLL stable. The measured phase noise is improved. The RMS jitter can also be improved.
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