一種應用單光源於取放機構檢測X軸定位誤差與Y軸定位誤差之裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

097130546

專利證號

I 384196

專利獲證名稱

一種應用單光源於取放機構檢測X軸定位誤差與Y軸定位誤差之裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2013/02/01

技術說明

本技術『一種應用單光源於取放機構檢測雙軸誤差之裝置』，係由一光源、一第一感測器以及一第二感測器所構成；為讓光源與隨著取放機構移動，第一感測器以及第二感測器分別固定於物件夾(吸)取端與物件放置端，當感測器接收到光源時就可以檢測出取放機構在夾(吸)取物件與放置物件時所產生的誤差；據此，將上述所量測到的處理訊號利用快速傅利葉轉換計算過後，就能得到取放機構之振動頻率，藉由振動分析可獲得機構之動態特性。 本技術具有低成本、高精確度、體積小、攜帶方便、架設簡易及檢測迅速等特性。

備註

本部(收文號1060000110)同意該校105年12月30日虎科大智財字第10534002490號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

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