製程及溫度變異偵測器

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

106103875

專利證號

I 642273

專利獲證名稱

製程及溫度變異偵測器

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2018/11/21

技術說明

一種製程及溫度變異偵測器包含一環形振盪器、一計數器及一判斷單元，該環形振盪器輸出一振盪訊號，該計數器接收該環形振盪器之該振盪訊號，其用以計數該振盪訊號於一時間中的振盪次數而輸出一計數訊號，該判斷單元接收該計數訊號，以根據該計數訊號的振盪次數判定電晶體的製程角落(Process corner)。 本設計提出之製程及溫度變異偵測器由兩種偵測器所組成，分別為NMOS製程及溫度變異偵測器與PMOS製程及溫度變異偵測器。NMOS製程及溫度變異偵測器內使用NMOS-type inverter，而PMOS製程及溫度變異偵測器內則使用PMOS-type inverter，藉由NMOS-type與PMOS-type inverter形成之環形震盪器，在不同製程飄移下產生不同的訊號，由訊號之震盪次數來判斷製程角落，此架構亦可偵測製程(TT、FF、SS、FS、SF)，以及溫度之飄移。 A process and temperature variation detector includes a ring oscillator, a counter and a determined unit. The ring oscillator outputs an oscillated signal. The counter received the oscillated signal of the ring oscillator for counting the oscillation numbers of the oscillated signal in a period and outputting a counted signal. The determined unit received the counted signal for determining the process corner of the transistor according to the oscillation numbers of the oscillated signal.

備註

本部(收文號1100053854)同意該校110年8月25日中產營字第1101401007號函申請終止維護專利(中山)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

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