向列型液晶盒表面錨定能量特性之測定方法及系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095131156

專利證號

I 318683

專利獲證名稱

向列型液晶盒表面錨定能量特性之測定方法及系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立聯合大學

獲證日期

2009/12/21

技術說明

本發明之主要特色為針對習知量測技術所提出之光強度檢測技術進行改善，係提出共光程外差干涉裝置進行液晶盒傾角錨定能量的測定，該技術不受光多重干涉、雷射功率穩定度、介質吸收等因素所影響;故能降低外界擾動所導致之測量誤差值、提高產業量測之精確性、進步性;並系統架構簡單及操作單純符合簡化測量操作程序及產業利用性。本發明技術特徵係運用Zeeman雙穩頻雷射來設計一共光程外差干涉量測系統，此系統所測量的是由液晶雙折射所造成s及p偏極光的相位延遲(Phase retardation)，因此可即時且精確分析水平排列向列型液晶分子在電場影響下之光學相位特性變化，且輔以數值理論模擬方式來分析電壓與相位延遲之相關曲線，再將實驗結果與理論分析值相擬合比較，進而得到在外加電場作用下之液晶分子之傾角錨定能量。 The invention discloses and develops a simple while accurate method to determine the anchoring energy by using a common-path optical heterodyne interferometer arrangement. By measuring the phase retardation of the LC cell versus the applied voltage, the polar anchoring energy of the homogeneously aligned cell can be precisely obtained.

備註

106-02研發成果審查會同意終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術合作組

連絡電話

037-381211

網址