指紋對位方法及其裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

108147747

專利證號

I 719780

專利獲證名稱

指紋對位方法及其裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立高雄大學

獲證日期

2021/02/21

技術說明

本發明是一種指紋對位方法及其裝置，該指紋對位方法包含以下步驟：自片段指紋圖像選定範本指紋圖像及查詢指紋圖像；取得範本指紋圖像及查詢指紋圖像的特徵點訊息；根據指紋圖像特性選定指紋運算模式計算範本指紋圖像及查詢指紋圖像的相似性分數，取得對應特徵點關係；根據指紋扭曲特性及指紋圖像大小對相似性分數進行第一次加權運算；根據對應特徵點的多種相關因子對相似性分數進行第二次加權運算；依據一預設分數門檻判斷範本指紋圖像及查詢指紋圖像是否具有足夠相似性；將範本指紋圖像及查詢指紋圖像進行指紋對位，產生較完整的指紋圖像。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

研究發展處

連絡電話

07-5919100

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