擴散光學斷層掃描之影像重建方法、裝置及電腦程式產品

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098133815

專利證號

I 412940

專利獲證名稱

擴散光學斷層掃描之影像重建方法、裝置及電腦程式產品

專利所屬機關 (申請機關)

國立交通大學

獲證日期

2013/10/21

技術說明

最近幾年，關於擴散光學斷層掃描的研究越來越多. 在影像重建的過程中演算法對於重建後的影像準確度與過程中的計算複雜度有很大的影響。此篇研發成果對此提供有效率的影像重建方法並可實現於超大型積體電路以應用於手持式裝置中。此研究使用不同的非均質吸收體進行擴散光學斷層掃描模擬，同時影像重建的正確性與時間分別使用區塊重建方式與子區塊重建方式進行比較。均方根誤差用來定量的分析影像重建的準確度，此外利用簡化參數(Truncated Parameter)與使用子區塊重建法簡化重建複雜度與提升影像品質。此研究顯示使用此兩種方式可以達到提高重建速度與良好的重建品質，同時可以將此連續波式擴散光學斷層掃描重建演算法實現於超大型積體電路中。 In recent years, there has been an increasing interest in diffuse optical tomography (DOT). The image accuracy and computational complexity are greatly affected by the reconstruction algorithm. This paper aims at providing an efficient reconstruction technique which can be implemented in VLSI for advanced portable devices. Various inhomogeneous absorption models are used in simulations of continuous-wave DOT systems. The accuracy and time consumption are calculated and compared for both frame and sub-frame modes. Mean square errors (MSE) are derived to quantify the accuracy of different modes. Decreasing the complexity of algorithm and enhancing the quality of image can be achieved by adjusting the truncated parameter and reconstructive mode. This study has shown that the sub-frame mode with truncated Jacobi Singular Value Decomposition (TJSVD) algorithm is the method with higher efficiency and better quality. It can also be implemented in VLSI for continuous-wave DOT.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智慧財產權中心

連絡電話

03-5738251

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