應用於TFT與ACF組合製程中假本壓機影像快速自動對位之自動光學系統及其使用方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

096116280

專利證號

I 354148

專利獲證名稱

應用於TFT與ACF組合製程中假本壓機影像快速自動對位之自動光學系統及其使用方法

專利所屬機關 (申請機關)

逢甲大學

獲證日期

2011/12/11

技術說明

本技術提出一種新的定位法，亦可適用在其他如：LCD面版檢糙、PCB瑕疵檢測與模具疊合定位 動作，提供一自動化與光學檢測之方法. 本技術主要提出一種標誌對位方法運用於FPC對位壓合製程以及一個運用樣板比對技術在TFT-LCD組合製程中，依照製程先行利用新的對位方法輔助機器作好異方姓導電模壓合動作，有效精密組合、樣本取得方式以及判定定位的正確率可達到最佳化 本技術提出一種新的定位法，亦可適用在其他如：LCD面版檢糙、PCB瑕疵檢測與模具疊合定位 動作，提供一自動化與光學檢測之方法. 本技術主要提出一種標誌對位方法運用於FPC對位壓合製程以及一個運用樣板比對技術在TFT-LCD組合製程中，依照製程先行利用新的對位方法輔助機器作好異方姓導電模壓合動作，有效精密組合、樣本取得方式以及判定定位的正確率可達到最佳化 In this patent a new marker alignment method is applied to the fabrication process of FPC positioning bonding, and sample comparison technology applied to the combined fabrication process of TFT-LCD. After the first linear regression method, filtration process, and second linear regression calculation, the central coordinate of the positioning marker can be obtained. The compensation method carries out sample point mapping compensation through parallelism or perpendicularity between the middle line or boundary line. This method can effectively avoid the positioning error produced by flaws in image taking process or poor image quality. This positioning method not only applies to the single image, but also could precisely position two images. In the future, it is expected this positioning method can be combined with positioning machine, and conduct positioning online.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術授權中心

連絡電話

(04)24517250-6811

網址