奈米積體電路中利用遞迴動差法估測非均勻性分佈式RLC耦合互連線路串擾雜訊的驗証方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

093130687

專利證號

I270796

專利獲證名稱

奈米積體電路中利用遞迴動差法估測非均勻性分佈式RLC耦合互連線路串擾雜訊的驗証方法

專利所屬機關 (申請機關)

長庚大學

獲證日期

2007/01/11

技術說明

本發明將提供一種於奈米積體電路中，同時考慮耦合電容及電感、互感效應下，快速估測串 擾雜訊的工具。本發明以非均勻分佈式RLC耦合樹狀電路模型，模擬奈米積體電路中的互連線 路。利用線性運算時間複雜度的遞迴動差運算工具與座標投影式的模型簡化技術，本發明可 以有效估測具有電感性之串擾雜訊峰值，且其運算效率及精確性均較集總式電路模型為佳。 此遞迴動差運算工具將可同時處理具有耦合電容與互感的電路動差計算。所產生保證穩定性 之簡化模型將用於估測串擾雜訊峰值。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術移轉中心

連絡電話

03-2118800轉3201

網址