光纖耦合器之耦合效率檢測裝置及其方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

101118292

專利證號

I 472731

專利獲證名稱

光纖耦合器之耦合效率檢測裝置及其方法

專利所屬機關 (申請機關)

逢甲大學

獲證日期

2015/02/11

技術說明

一種光纖耦合器之耦合效率檢測裝置，係包括一光源、至少一平移台、一插頭透鏡、一插座透鏡、一第一光纖、一第二光纖及一檢測系統。該光源係用以發射出一雷射光；該光源所發射之該雷射光透過該第一光纖傳輸至該插頭透鏡，經由該插頭透鏡將該雷射光擴散平行射出，該插座透鏡再將該雷射光聚焦耦合到該第二光纖內，該第二光纖投射一影像至該檢測系統，該檢測系統係利用該影像，找出最佳耦合效率位置。本發明亦揭露一種光纖耦合器之耦合效率檢測方法。

備註

本部(收文號1061014292)同意該校106年12月22日逢產字第1060064203號函申請終止維護專利

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