標的裝置的基底預測保養方法與其電腦程式產品Baseline predictive maintenance method for target device and computer program product thereof

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

日本

專利申請案號

特願 2013-125444

專利證號

特許 5643387

專利獲證名稱

標的裝置的基底預測保養方法與其電腦程式產品Baseline predictive maintenance method for target device and computer program product thereof

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2014/12/17

技術說明

現有錯誤偵測與分類（FDC）的方法是找出欲監控之目標設備且將與目標設備(TD)相關之關鍵參數納入監控，然後透過統計製程控制（SPC）的方法來偵測失效是否發生。然而，在實際情況中，目標設備的異常可能並非是其本身失效所造成的；而是由其他相關參數所導致。如此，將無法精確地達成錯誤分類或診斷。此外，現有的預測保養（PdM）方法需要收集大量的歷史失效記錄來建立所有的失效模式庫。如果沒有這些大量的歷史失效記錄，預測保養方法可能無法正常運作。本專利的目的是提出一個運用虛擬量測技術來建構健康基底預測保養（BPM）的架構，其擁有FDC和PdM的功能。BPM架構包含了TD基準模型、FDC判斷邏輯以及剩餘壽命（RUL）預測模組。應用虛擬量測技術所產生的TD基準模型作為失效偵測的參考。透過BPM架構的運用，可解決上述傳統SPC方法的缺失，且不需要大量的歷史失效記錄，即可達到FDC及PdM的功效。 The purpose of this patent is to propose a virtual-metrology-based (VM-based) baseline-predictive-maintenance (BPM) scheme that possesses the capabilities of FDC and PdM. The BPM scheme contains the TD baseline model, FDC logic, and a remaining-useful-life (RUL) predictive module. The TD baseline model generated by the VM technique is applied to serve as the reference for detecting the fault. By applying the BPM scheme, fault diagnosis and prognosis can be accomplished, the problem of the conventional SPC method mentioned above can be resolved, and the requirement of massive historical failure data can also be released.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址