發明
中華民國
091111381
I 187079
鐵電場效電晶體製造方法
國立交通大學
2003/01/30
本案係指一種鐵電場效電晶體製造方法,其係應用於金屬/鐵電薄膜/絕緣層/半導體(MFIS) 結構的閘極電容元件製作上,該方法乃藉由在該絕緣層上沈積一鉍系鐵電薄膜,並經由一高 溫熱處理後,再鍍上一上電極層於該鉍系鐵電薄膜上,俾得致該鐵電場效電晶體結構。
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