三維量測系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100142573

專利證號

I 431240

專利獲證名稱

三維量測系統

專利所屬機關 (申請機關)

南臺學校財團法人南臺科技大學

獲證日期

2014/03/21

技術說明

本創作之三維量測系統分為二個主要部分，分別為一維雷射聚焦探頭和二維影像量測。一維雷射聚焦探頭的量測系統，是採用市售DVD光碟機內之光學讀取頭(Pick-up Head)為光路基礎，並改良研製而成光學式位移感測器，當感測工件表面偏離物鏡聚焦位置時，可經由四象限感測器量測到一S曲線的失焦訊號(Focus Error Signal,FES)，並利用此失焦訊號之線性段為參考訊號，以記錄工件表面與物鏡相對位移量，進而得知待測物表面輪廓。二維影像量測則採用CCD(Charge Coupled Device，電荷耦合元件)攝影機所捕捉的影像轉換為數位訊號，並對此訊號進行運算，即可量測微小工件的孔徑、圓心位置與幾何形狀…等待測物表面情況，並配合LED光源以同軸光方式，增加待測物表面之光源，且配合光路分析及設計，進一步完成一具雷射聚焦探頭與二維影像量測功能之三維量測系統。 The creation of a three-dimensional measurement system divided into two main parts, one CCD camera combined with a laser focus system for measuring 3D surface profile. 2D images are captured by CCD camera then processed by an image processing card. The picture has to convert to digital format for compression and transferring to computer (by using USB port). After that, the image can be displayed on monitor by using Visual Basic program. By processing on this image, we can get the 3D profile of small objects, such as pore size, central location ... etc..., and with the LED light source added, we can increase the brightness of the pictures captured .

備註

本部(收文號1090067917)同意該校109年11月6日南科大研產字第1090012450號函申請終止維護專利(南科大)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

研究發展暨產學合作處

連絡電話

06-2531841

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