偵測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

097145812

專利證號

I 400619

專利獲證名稱

偵測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2013/07/01

技術說明

　　本發明提出一種產品品質超規之偵測機制(FDS)，FDS可線上即時偵測製程資料參數值皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。FDS應用CART方法來建構製程參數與產品超規關係之模型，在FD Model裡設計一重新訓練與修剪的機制(RT&P Scheme)，採用最小化成本(Cost)樹之概念來修剪模型樹，以避免模型被過度訓練(Overfitting)的問題。當收集的製程資料正常時，透過FDS則能正確地偵測出產品是否超規(即失效或有缺陷)；若偵測為超規時，則發出警訊提醒工程師即時進行必要的處理。 　　本發明亦提出DQIy Algorithm來線上且即時地評估量測資料之品質的優劣。此量測資料品質不良的原因可能來自量測錯誤或其他外在因素(如粉塵汙染等)所造成。因此，此DQIy Algorithm亦可當做偵測是否有(如粉塵汙染等)會影響產品良率下降之現象發生的工具。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址