奈米粒子控制量測系統及其運作方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

108124825

專利證號

I 745719

專利獲證名稱

奈米粒子控制量測系統及其運作方法

專利所屬機關 (申請機關)

長庚大學

獲證日期

2021/11/11

技術說明

本發明提供了一種奈米粒子控制量測系統及其運作方法。本發明於同一個裝置中達到同時可以操控及測量奈米粒子的功效，該裝置主要包含一第一透明電極、一光導電層、沿著該光導電層周緣設置的一隔間元件以及一第二透明電極。該裝置透過對透明電極的直流／交流偏壓轉換以及直流／交流光源的應用，達到可於同一個系統中操控及測量奈米粒子的功效。 關鍵字：透明電極、光導電層、ODEP、LAPS

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術移轉中心

連絡電話

03-2118800轉3201

網址