光滑物體的量測系統及其量測方法/TOPOGRAPHICAL MEASUREMENT SYSTEM OF SPECULAR OBJECT AND TOPOGRAPHICAL MEASUREMENT METHOD THEREOF

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

15/150,449

專利證號

US 9,824,452 B2

專利獲證名稱

光滑物體的量測系統及其量測方法/TOPOGRAPHICAL MEASUREMENT SYSTEM OF SPECULAR OBJECT AND TOPOGRAPHICAL MEASUREMENT METHOD THEREOF

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2017/11/21

技術說明

本發明之主要目的在於提供一種光滑物體的量測系統，利用推算光滑物體的旋轉角度與相位差，能有效觀測並計算條紋圖案投影在該光滑物體上的完整影像，而獲得光滑物體的待測表面的形貌。 係關於一種物體的量測系統及其量測方法，特別關於一種光滑物體的量測系統及其量測方法。 一種光滑物體的量測系統及其量測方法，該量測系統包含一屏幕、一影像擷取裝置及一影像處理裝置。將該屏幕的一條紋圖案投射至一光滑物體而形成一虛像條紋圖案，透過分析該虛像條紋圖案而獲得該光滑物體的一形貌。 A measuring system of a specular object and a measuring method thereof are disclosed. The measuring system has a screen, an image capturing device, and an image processing device. The specular object reflects a fringe pattern of the screen to form a virtual image of the fringe pattern. The virtual image is therefore analyzed to obtain a surface profile of the specular object.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

網址