振盪系統與用以配合振盪器的輔助量測電路Oscillating System and Assistant Measuring Circuit for Oscillator

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

12/256,996

專利證號

US 7,952,443 B2

專利獲證名稱

振盪系統與用以配合振盪器的輔助量測電路Oscillating System and Assistant Measuring Circuit for Oscillator

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2011/05/31

技術說明

多相位壓控振盪器在無線通訊系統上扮演著極重要的角色，它主要是用來提供多組等相位差，且振幅相等之載波訊號。假使多相位壓控振盪器的振幅及相位誤差大，通常會對效能造成影響，如正交分頻多工(OFDM)，會造成位元錯誤率(bit error rate)變差，或是造成相位陣列接收機(phase array receiver)的輻射場型(radiation pattern)受到影響。因此，對於高效能系統，是必需提供一個振幅及相位誤差小的多相位壓控振盪器。但目前對於振幅及相位誤差量測方法很少提出，尤其超過四相位的壓控振盪器。而目前對於多相位的振幅與相位誤差較常使用的量測方法，主要是利用高頻取樣示波器直接量出，但卻受限於量測儀器頻率限制及微小的相位差不易讀取，且有多組輸出，因此增加儀器架設及同軸纜線校準複雜度。因此能精確地量出多相位的振幅與相位誤差是許多研究工作所追求的目標。

備註

本會(收文號1110054869)回應該校111年8月26日中大研產字第1111400992號函申請終止維護專利(國立中央大學)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

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