光學檢測平行度裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

099116767

專利證號

I 411765

專利獲證名稱

光學檢測平行度裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2013/10/11

技術說明

一種光學檢測平行度裝置，特別係指一種高精確度、且檢測迅速的平行度檢測裝置，該裝置具有一光源模組、一分光模組及至少二光電感測器，其中光源模組具有一光源與一分光元件，使光源模組能產生兩相互垂直之光束，其中一光束與移動方向平行、且為其中一光電感測器所接收，而另一光束則經分光模組產生兩相互垂直之光束，其中一光束與前述平行移動方向之光束平行，且該光束並為另一光電感測器所接收，透過上述的設計，其能藉由垂直與平行之光束作用，而不會受到機台機構的影響造成量測的誤差，並能具有低成本、高精確度、體積小、攜帶方便、架設簡易及檢測迅速之效。 NONE

備註

本部(收文號1060069982)同意該校106年9月5日虎科大智財字第10634001500號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

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