具有高靈敏度之表面電漿共振偵測方法及其應用之偵測系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100121499

專利證號

I 499766

專利獲證名稱

具有高靈敏度之表面電漿共振偵測方法及其應用之偵測系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2015/09/11

技術說明

表面電漿共振感測器已被廣泛應用在生醫檢測、光學折射率檢測等相關產業。一般而言，表面電漿共振感測器是使用強度偵測的技術，但近年來，相位偵測的技術已被證實比強度偵測的技術具有較高的靈敏度。一般而言，要提昇表面電漿共振感測器相位偵測靈敏度多需要精確控制金屬膜的特性或厚度，之前有提出一種聲光調變系統，並搭配多格個光學元件可以在系統上提昇表面電漿共振感測器相位偵測靈敏度。本技術提出一種簡單的提昇表面電漿共振感測器相位偵測靈敏度的方法。我們使用外差式干涉儀來做為相位偵測的系統，利用改變光偵測前面偏振片的角度即可提昇表面電漿共振感測器相位偵測靈敏度。當偏振片的角度設定在相位跳躍點的附近時，可得較大的相位偵測靈敏度，我們提出了理論解釋並完成實驗的證實。此方法不需要精確控制金屬膜的厚度，大大提昇相位偵測方法的方便性。 We propose a method of rotating the analyzer in front of the photo-detector in a heterodyne interferometer system to implement optical phase shift and detection sensitivity enhancement of surface plasmon resonance (SPR) sensors. When the analyzer is rotated to shift the phase curve to be near the phase jump point, the phase detection sensitivity of the SPR sensor can be greatly enhanced. Theoretical calculations of a prism-coupled SPR device were performed using this method. Experimental result using an electro-optic heterodyne interferometer is reported.

備註

本部(收文號1100045608)同意該校110年7月19日虎科大智財字第1103400075號函申請終止維護專利(虎科大)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

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