用來量測超短光脈衝時域強度與相位分布的三重相關器

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

10/096,682

專利證號

US6,734,976B2

專利獲證名稱

用來量測超短光脈衝時域強度與相位分布的三重相關器

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2004/05/11

技術說明

用來量測超短光脈衝時域強度與項為分布的三重相關器

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址