雙向平面不對稱結構之制振方法、調諧質量阻尼器之設計方法、以及其所設計之調諧質量阻尼器 | 專利查詢

雙向平面不對稱結構之制振方法、調諧質量阻尼器之設計方法、以及其所設計之調諧質量阻尼器


專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

105114664

專利證號

I 676747

專利獲證名稱

雙向平面不對稱結構之制振方法、調諧質量阻尼器之設計方法、以及其所設計之調諧質量阻尼器

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2019/11/11

技術說明

本發明所提供之雙向平面不對稱結構之制振方法,針對一N層雙向平面不對稱結構的第一組三個振態進行控制,且於該N層雙向平面不對稱結構上方設置一調諧質量阻尼器,該調諧質量阻尼器為利用原建築物的第一組三個振態的三自由度振態參數進行設計,具有質量矩陣Ma*、阻尼矩陣Ca*、以及勁度矩陣Ka*。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686


版權所有 © 國家科學及技術委員會 National Science and Technology Council All Rights Reserved.
建議使用IE 11或以上版本瀏覽器,最佳瀏覽解析度為1024x768以上|政府網站資料開放宣告
主辦單位:國家科學及技術委員會 執行單位:台灣經濟研究院 網站維護:台灣經濟研究院