Active Measuring Probe for EMI Detection

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

15/930,916

專利證號

US 11,137,434 B2

專利獲證名稱

Active Measuring Probe for EMI Detection

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2021/10/05

技術說明

1. 透過放大器來為1歐姆探棒提供增益，使損耗降低 2. 利用低損耗1歐姆探棒量測EMI，可快速量測到能量較低的EMI，而非透過降低接收機的解析頻寬來搜尋 3. 可於一歐姆棒後直接串接50歐姆輸出入阻抗的射頻放大器來實現 4. 移除1歐姆探棒中49歐姆電阻後，直接串接射頻放大器，可獲得更高的增益與更低的雜訊指數

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址