機上二維度輪廓檢測的方法與系統System and method for the ON-MACHINE 2-D Contour Measurement

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

12/205,011

專利證號

US 8,103,376 B2

專利獲證名稱

機上二維度輪廓檢測的方法與系統System and method for the ON-MACHINE 2-D Contour Measurement

專利所屬機關 (申請機關)

中原大學

獲證日期

2012/01/24

技術說明

本發明提出一種機上二維度輪廓檢測的方法與系統，主要利用影像處理中的邊緣檢測法、座標轉換、誤差辨識法及影像匹配原理，發展可於機上直接量測精微工具機加工的微型工件X-Y平面的加工誤差，即輪廓誤差及循跡誤差。 本發明提出一種機上二維度輪廓檢測的方法與系統，主要利用影像處理中的邊緣檢測法、座標轉換、誤差辨識法及影像匹配原理，發展可於機上直接量測精微工具機加工的微型工件X-Y平面的加工誤差，即輪廓誤差及循跡誤差。

備註

本會(收文號1110060137)同意該校111年9月26日原產字第1110003412號函申請終止維護專利(中原大學)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作暨專利技轉中心

連絡電話

(03)2651830

網址