Lens Measuring Device and Method Applied Therein

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

12/361,911

專利證號

US 7,969,563 B2

專利獲證名稱

Lens Measuring Device and Method Applied Therein

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2011/06/28

技術說明

一種透鏡量測裝置及其量測方法。該透鏡量測裝置包 括：平行光源、第一極化片、第二極化片、待測鏡片以及 影像分析模組；其量測方法係先使該平行光源依序通過第 一極化片、待測鏡片、第二極化片以產生待測光束，再使 影像分析模組分析待測光束之影像資訊，以判斷出該待測 鏡片之結構中心與能量分佈，進而分析出該透鏡偏心與傾 斜之誤差。由於該量測方法係採用一般平行光源，故能免 除傳統使用準直雷射光源所需之繁複校正，並能輕易地於 快速量產後同時檢測複數個待測鏡片，進而大幅降低量測 時間與其量測成本。 A lens measurement device and a method for measuring a lens are provided. The device includes a parallel light source, a first polarizer, a second polarizer, a subject lens, and an image analyzing module. The method includes: passing a parallel light beam through the first polarizer, the subject lens, and the second polarizer in sequence to become a subject light beam; and analyzing, by the image analyzing module, image-related information about the subject light beam, to determine the structural center and energy distribution of the subject lens and thereby evaluate the errors of polarity and skewness of the subject lens. Given the parallel light source, the method spares complicated correction which is otherwise required for conventional laser collimation, allows a plurality of subject lenses to be easily tested after mass production thereof, and reduces measurement duration and measurement costs greately.

備註

本部(收文號1110011472)同意該校111年2月25日國研授儀服院字第1110900341號函申請終止維護專利(財團法人國家實驗研究院)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

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