用於評估製造系統中的機器良率的裝置及方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

109128113

專利證號

I 756784

專利獲證名稱

用於評估製造系統中的機器良率的裝置及方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2022/03/01

技術說明

使用Job-Shop模式生產的工廠擁有多樣化的產品、多種製程，以及多部機器的複雜工廠產線。工廠為了降低產生不良品所花費的成本，需要知道每部機器的良率，以便做出決策。而加工後的產品只能透過檢驗站來檢查是否有瑕疵產生。但是基於成本的考量，工廠無法在每部機器設立檢驗站，以檢查該機器是否有瑕疵品的產生。此外，檢驗站通常只能判定有明顯瑕疵的產品為瑕疵品，不明顯的瑕疵品可能會進入後續製程。所以當一件產品被檢驗站判定為瑕疵品時，其原因可能來自於當前的加工機器或是前幾站的加工機器，無法判定是來自於哪一部機器。本發明可以應用於Job-Shop模式的工廠，並且克服上述問題。根據工廠生產資料，計算出每一部機器的良率。根據結果，可針對良率較低的機器進行檢查，或是做出及時的決策，以維持生產品質。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

03-4227151轉27076

網址