基於合成聚焦技術之厚度測量系統與方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

108137515

專利證號

I 723588

專利獲證名稱

基於合成聚焦技術之厚度測量系統與方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2021/04/01

技術說明

The advantage of the invention 合成聚焦顯像法所強調的是檢測迅速、檢測結果直觀、設備簡便、結果精確。再檢測迅速上，合成聚焦顯像法之運用乃是收集多筆加以合成影像對於檢測訊號的精度要求較低，在檢測過程中可以大幅降低檢測時間；檢測結果直觀則是由於檢測結果均以影像呈現，減少人為判斷的因素，使檢測結果更為可信；合成聚焦顯像法之設備僅須筆電、擷取卡以及敲擊源及接收源，整體設備輕便好攜帶好作業；最後，針對檢測結果，發展出厚度修正公式進一步獲得更為精確之檢測成果。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

03-4227151轉27076

網址