熱脫附游離裝置、質譜系統，及質譜分析方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100131274

專利證號

I 449081

專利獲證名稱

熱脫附游離裝置、質譜系統，及質譜分析方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2014/08/11

技術說明

本發明技術主要是以金屬探針(metal probe)進行快速取樣，而樣品可來自各式固體表面或是液體，之後含有分析樣品的探針在置入一簡單的加熱源區域，依不同的溫度控制進行分析樣品的熱脫附或是熱裂解，再以電噴灑游離裝置所產生的帶電荷的溶劑液滴進行融合，最後經由離子分子反應(Ion molecule reaction, IMR)或是電噴灑過程生成帶電荷的分析物離子而被質譜儀所偵測。 本發明技術以一簡單的樣品探針直接快速取樣，接著直接置入已預熱中的熱脫附裝置進行熱脫附或熱裂解，氣相分析物不需再以導管從外部導入而是直接進入游離區域游離偵測。另外，本發明裝置成本較低並可微小化，易於直接與質譜界面結合。 分析物經由金屬探針取樣，之後，置入一加熱源區域，脫附出來的氣相分析物分子，再以電噴灑游離裝置所產生的帶電荷的溶劑液滴反應，最後生成分析物離子，以質譜儀偵測。 A TD-ESI system comprises three major parts including sampling, thermal desorption and ionization. Protocol descripted as below: the metal probe with analytes was inserted in a preheated oven. The analytes were desorbed and delivered using a carrier gas into reaction region. The desorbed analytes reacted with the charged solvent droplets to produce analyte ions which could be generated by ion-molecule reactions. While coupling with mass spectrometer, it provides the capacity of screening a large number of the samples for rapid, real-time, in-suit and as well as high-throughput analysis.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

網址