採用自比量尺之測驗系統及其方法TESTING SYSTEM AND METHOD USING AN IPSATIVE SCALE | 專利查詢

採用自比量尺之測驗系統及其方法TESTING SYSTEM AND METHOD USING AN IPSATIVE SCALE


專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100124546

專利證號

I 450231

專利獲證名稱

採用自比量尺之測驗系統及其方法TESTING SYSTEM AND METHOD USING AN IPSATIVE SCALE

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣師範大學

獲證日期

2014/08/21

技術說明

傳統的李克特氏量尺(Likert scale)為多數的情意測驗、人格測驗甚至市場調查問卷常使用的測量工具,但是應用在實務界的人才甄選上,由於李克特氏的自陳式題目比較容易作假,也就是說應徵者容易根據應徵職位所期望的特質來作答,以取得競爭優勢的目的,而無法反映真實狀況。目前實務界多以自比式的題目(Ipsative item)作為甄選工具,強迫受試者必須在特值之間比較優劣順序,這樣的限制也確實降低甄選情境中應徵者作假的情形。但是自比式問卷仍然有兩個問題,一是計分結果只能解釋受試者內在特質的優劣順序,不能在受試者間作比較;二是其得分無法進行因素分析。這些問題主要是因為自比式問卷不同特質間的互依性太強,使得每個受試者的所有特質的加總分數一樣所導致。 本專利提出自比量尺(Ipsative scale)的題目設計以及計分方式,試題呈現如圖三所示,以電腦化測驗的方式實施。並針對此題目設計所獲得的受試者作答資訊,提供適合執行的計分數學模式。其題目設計的方式結合李克特氏量表與自比式問卷的特性,受試者可以同時選擇特質的喜好強度,並且對特質之間進行優劣排序,如此受試者作答時需耗費認知資源比較自身特質間的優劣順序,可以避免李克特氏量表容易作假的缺點,而本專利提供之數學計分模式,因納入試題反應理論的試題難易度參數,其分數除了可解釋受試者內在特質的強弱外,亦能進行受試者間特質的比較。 We propose a new Ipsative measurement design for computer-administered tests, as well as its scoring properties (see figure 3 for the presentation of test item). Further, we present the math models for the scoring appropriate to, and depending on, the information gathered through this measurement design. The new ipsative scale involves both characteristics of Ipsative and Likert scales, for it not only solicits test-takers to rank among trait items but also requires them to reflect the degree of their preferences for each trait item. Since test-takers are required to employ more cognitive resources in ranking trait items in the order according to their preferences, faking that is common in tradition Likert scale is reduced. The math model used in the scoring also encompasses the item-difficulty parameter of the Item Response Model, thus enabling the comparisons of individuals’ trait items independently as well as interdependently across individuals.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作組

連絡電話

77341329


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