粒子三維定位與追蹤裝置及其方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

105114139

專利證號

I 582407

專利獲證名稱

粒子三維定位與追蹤裝置及其方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2017/05/11

技術說明

一種粒子三維定位與追蹤裝置，包含光源模組、成像透鏡組以及光偵測模組。光源模組係用以激發待測物，使待測物產生螢光光束。成像透鏡組包含一第一柱面透鏡、一第二柱面透鏡以及一成像透鏡，其中第一柱面透鏡具有第一焦距，第一焦距為正值，且第二柱面透鏡具有第二焦距，第二焦距為負值，第一柱面透鏡與第二柱面透鏡係共同用以調整螢光光束之一成像形狀。成像透鏡係用以將螢光光束成像於光偵測模組，且光偵測模組係用以偵測通過成像透鏡組之螢光光束。 A three dimensional particle localization and tracking device includes a light source module, an imaging lens set and a light detecting module. A light source module is configured to excite an object to generate fluorescence light. An imaging lens set includes a first cylindrical lens, a second cylindrical lens and an imaging lens, wherein the first cylindrical lens has a first focal length, the first focal length is positive, the second cylindrical lens has a second focal length, and the second focal length is negative. The first cylindrical lens and the second cylindrical lens are configured to adjust the image of the fluorescence light. The imaging lens is configured to form an image of the fluorescence light, and the light detecting module is configured to detect the fluorescence light through the imaging lens set.

備註

本部(收文號1090071728)同意該校109年11月30日中大研產字第1091401301號函申請終止維護專利(中央)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

03-4227151轉27076

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