透鏡偏心與傾斜之干涉儀量測方法與裝置Lens Measuring Method and Device for Determining Decenter and Tilt of the Lens

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

11/513,601

專利證號

US 7,535,557 B2

專利獲證名稱

透鏡偏心與傾斜之干涉儀量測方法與裝置Lens Measuring Method and Device for Determining Decenter and Tilt of the Lens

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2009/05/19

技術說明

本發明係提供一種透鏡偏心及傾斜的測定裝置及其測定方法，其中該裝置係包含一干涉儀，其係承載於一調整基座上；一待測透鏡，其係具有一第一與一第二鏡面，且被承載於一透鏡挾持基座上；以及一滑軌平台，用以承載該調整基座及該透鏡挾持基座，該滑軌平台上具有一滑軌以供該透鏡挾持基座前後移動。該調整基座與該透鏡挾持基座分別具有四軸調整機構，以使該干涉儀之光軸與該待測透鏡之第一鏡面光軸的相對位置關係得以調整。藉由使該第一與第二鏡面光軸先後對該干涉儀之光軸進行調校，該第一與第二鏡面光軸間的偏心與傾斜便可獲得。 A device for measuring a lens, comprising a first interferometer having a first optical axis and carried on a first adjustment base, a lens holder for holding the lens having a first surface having a first lens optical axis and a second surface having a second lens optical axis, and a platen having a sliding rail and carrying the first adjustment base and the lens holder thereon, wherein the lens holder is movable on the sliding rail, wherein each of the first adjustment base and the lens holder has a tetra-axis adjustment mechanism through which a relative positional relationship of the first optical axis of the first interferometer and the first lens optical axis of the first surface of the lens is adjustable.

備註

本部(收文號1050070266)同意該院105年8月23日國研業字第1050102309號函申請終止維護專利

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