一種以影像特徵斑點評估影像相關度之系統及其方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

101140320

專利證號

I 497423

專利獲證名稱

一種以影像特徵斑點評估影像相關度之系統及其方法

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2015/08/21

技術說明

一種以影像特徵斑點評估影像相關度之系統及其方法，其透過計算在不同時間擷取之特徵斑點影像的調變轉換函數曲線，並判斷兩調變轉換函數曲線之相關性是否低於臨界值，若所計算出之相關性值低於臨界值，則可在重新選擇特徵斑點影像後計算調變轉換函數曲線，並重新計算相關性。

備註

本部(收文號1090048620)同意該校109年7月30日國研授儀服院字第1090901164號函申請終止維護專利(財團法人國家實驗研究院)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

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