類比至數位轉換器之測試架構與測驗方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

11/168,543

專利證號

US7,154,422 B2

專利獲證名稱

類比至數位轉換器之測試架構與測驗方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2006/12/26

技術說明

此專利是應用於類比-數位轉換器(Analog-to Digital Converter, ADC)之自我測試架構，架構中測試電路複雜度低，適合使 用於內建式自我測試(Built-In Self-Test, BIST) 設計

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址