奈米點及用其偵測葡萄糖濃度的方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

106115335

專利證號

I 628436

專利獲證名稱

奈米點及用其偵測葡萄糖濃度的方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2018/07/01

技術說明

一種用以偵測葡萄糖濃度之奈米點，係包含：一氧化矽核；一自組裝單層，包含一3-環氧丙氧基丙基，該自組裝單層以一共價鍵結合該氧化矽核；及一葡萄糖氧化酶粒子，以一共軛鍵結合該自組裝單層之3-環氧丙氧基丙基。本發明另關於以該奈米點偵測葡萄糖濃度的方法。 A nanodot for detecting glucose concentration is disclosed. The nanodot includes a silicon oxide core, a self-assembled monolayer having a 3-glycidoxypropyl group and a glucose oxidase particle. The self-assembled monolayer connects to the silicon oxide core. The glucose oxidase particle connects to the 3-glycidoxypropyl group of the self-assembled monolayer. A method for detecting glucose concentration using the nanodot is also disclosed.

備註

本會(收文號1120021252)同意該校112年4月13日中產營字第1121400359號函申請終止維護專利(國立中山大學)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

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