光分佈量測儀OPTIC DISTRIBUTION METER

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

104129831

專利證號

I 545310

專利獲證名稱

光分佈量測儀OPTIC DISTRIBUTION METER

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2016/08/11

技術說明

光分布量測機構包含一待測物系統與一取像系統。其中，待測物系統中馬達1與馬達2，乃用於方便改變光源入射待測物之角度。取像系統中馬達3與馬達4，則用於方便改變取像角度。如此，使得光分布量測儀可快速取像、分析，進而大幅縮短光分布量測時間，得取三度空間中光分布之資訊。 就待測光源/反射體的光場分佈量測而言，在與既有技術相較後，本技術具有以下特點： 1. 軌道可旋轉待測物系統至指定之取像角度，使用軌道設計能獲得較小的光遮蔽。 2. 限制光源經過平凸透鏡的孔徑，使照射至待測物上的收光角度能降低照射待測物時之光源張角，並減少能量損耗。 A measuring instrument, which is consist of an OUT system (object under test) and an image acquiring system. In the meantime, the OUT system including an LED light source, an object holder, a motor unit 1 and another motor unit 2, is for easily changing the incident angles of the illumination light source. And, the image acquiring system including a screen, a camera, a motor unit 3 and a motor unit 4, is for efficiently changing the viewing angles of the images. Therefore, this optic distribution meter can measure the optic energy distribution in 3D space with a ultra fast measuring time as compared with the conventional instruments.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

03-4227151轉27076

網址