可同時量測灰階值-亮度曲線與顯示器均勻性之方法及其系統架構

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

097101435

專利證號

I 353187

專利獲證名稱

可同時量測灰階值-亮度曲線與顯示器均勻性之方法及其系統架構

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2011/11/21

技術說明

待補

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

03-4227151轉27076

網址