用於偵測氣體中汙染物之裝置及方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

101122944

專利證號

I 465282

專利獲證名稱

用於偵測氣體中汙染物之裝置及方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2014/12/21

技術說明

1.濃縮機制：硼氣體分子污染物(Boron Airborne Molecular Contaminants )濃縮機制建立 2.縮短偵測時間：硼酸與螢光劑結合成具有螢光的硼化合物，可達即時偵測 3.快速濃縮：在極乾淨的潔淨室，低濃度硼氣體分子會造成精密晶片或TFT-LCD或Dram或製藥等環境污染。本技術可急速濃縮萃取，提升偵測硼氣體分子濃度下限。 4. 縮短偵測時間：可在30分鐘內急速濃縮偵測硼氣體分子，取代現行需花24小時才能偵測的方法。 5.不會產生二次污染。 6.日後可轉化為即時感測器。 Set-up for Boron Airborne Molecular Contaminants concentrated. Rapid detection time of Boron compound in clean-room.

備註

本部(收文號1100075104)同意該校110年12月24日校研發字第1100095825號函申請終止維護專利(台大)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址