製造上瑕疵偵測方法及其系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

092135316

專利證號

I233031

專利獲證名稱

製造上瑕疵偵測方法及其系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立交通大學

獲證日期

2005/05/21

技術說明

本發明提供一種新穎的製造上瑕疵偵測方法，該方法係用以在一個使用多數機器之製程中找尋造成產品瑕疵之主因機 器集合。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智慧財產權中心

連絡電話

03-5738251

網址