整合薄層層析與質譜檢測的方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

107138173

專利證號

I 689725

專利獲證名稱

整合薄層層析與質譜檢測的方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2020/04/01

技術說明

本發明為新式的薄層層析電噴灑游離質譜介面(TLC-ESI/MS)，首先沿著層析分離軌道，將分離樣品的層析片剪裁，形成兩片邊緣為鋸齒形狀的層析片，之後在層析片施加高電壓，並在鋸齒三角形表面上注入電噴灑溶液，有機溶液可萃取靜相上的分析物，並帶到三角形尖端，形成電噴灑噴霧，產生分析物離子。本方法可檢測層析分離軌道上的可見及不可見分析物，包含熱不穩定性、熱非揮發性分析物均可分析，不會有靜相粒子(gel particle)的干擾，並能獲得分析物的離子訊號。目前本技術已用於食品、中草藥、胃液等樣品檢測，分析色素、天然物及藥物等成份。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

網址