多掃描樹測試結構的測試合成方法以及晶片測試裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

099118755

專利證號

I 431299

專利獲證名稱

多掃描樹測試結構的測試合成方法以及晶片測試裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2014/03/21

技術說明

因此本發明之一方面係在於提供一種之多掃描樹測試結構的測試合成方法以及晶片測試裝置，用以測試晶片，藉以同時考量繞線長度與掃描輸出的位置與數量，而可大幅地降低掃描樹所需的繞線長度與達到符合原始輸出的限制。 此多掃描樹測試結構的測試合成方法以及晶片測試裝置包含以下步驟：將晶片的電路分割成複數個分割區域；決定一掃描方向；形成複數個分層群組；找尋相容群；連接相容群；將不屬於相容群的掃描細胞連接成掃描鏈。此方法可應用於晶片測試裝置中。 A multiple scan tree synthesis method and an associated chip test device are disclosed. The method comprises the following steps: separating a chip circuit into a plurality of partitions; determining a scanning direction; forming a plurality of levels; searching a plurality of compatibility groups; connecting the compatibility groups; and connecting a plurality of scattered scan cells to a scan chain. The method can be applicable to the chip test device.

備註

本部(收文號1060011881)同意該校106年2月17日中產營字第1061400161號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

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