半導體摻雜製程的檢測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095109641

專利證號

I275155

專利獲證名稱

半導體摻雜製程的檢測方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2007/03/01

技術說明

1

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址