高速數位類比轉換器非線性誤差之測試方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098139660

專利證號

I 399561

專利獲證名稱

高速數位類比轉換器非線性誤差之測試方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立雲林科技大學

獲證日期

2013/06/21

技術說明

本發明為一種新的測試方法，此方法是利用降頻取樣技術來量測高速數位類比轉換器，首先將數位類比轉換之類比輸出信號與一個參考訊號之正弦低頻載波送入調變器做比較，經調變器轉換後，可得到低速之脈波信號，因而可以使用一般的數位化邏輯分析儀來量測此一低速脈波信號的脈波寬度的變動，用此一方法來估測數位類比轉換器的非線性誤差。應用本文所述方法使用於8位元50至300MHz之待測電路，實驗結果成效相當良好，可使用較低速度之量測設備即可處理較高速度之待測電路。 In this work, we propose a novel test scheme for high speed digital-to-analog converter (DAC) based on under -sampling technique. The under-sampling technique is constructed by a pulse-width-modulation (PWM) modulator. The DAC output signal is modulated through a low frequency sinusoidal carrier and converted to low speed pulse signal. The pulse width of low speed pulse signal can be measured using conventional logic analyzer and the nonlinearity error of DAC can be estimated by analyzing the variation of pulse width. An experiment on 8-bits 50~300MS/s DAC has shown very good result and only requires a set of instruments which have sample rate lower than that of the circuit-under-test (CUT).

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財管理組

連絡電話

(05)5342601轉2521

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