一種應用分光束檢測取放機構多軸誤差之裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098114921

專利證號

I 401420

專利獲證名稱

一種應用分光束檢測取放機構多軸誤差之裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2013/07/11

技術說明

一種應用分光束檢測取放機構多軸誤差之裝置，係由一含有一光源分光單元、一第一感測單元以及一第二感測單元所構成；光源分光單元隨著取放機構移動，第一感測單元以及第二感測單元分別固定於物件夾(吸)取端與物件放置端，當光源分光單元內的光源入射分光鏡後，其分光鏡再分光以供感測單元之感測器接收到光束，以提供感測器可以檢測出取放機構在夾(吸)取物件與放置物件時所產生的定位誤差與角度誤差；據此，將上述所量測到的處理訊號利用快速傅利葉轉換計算過後，就能得到取放機構之振動頻率。

備註

本部(收文號1060043183)同意該校106年6月28日虎科大智財字第10634001120號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

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