內嵌於系統級封裝之被動元件測試裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098139080

專利證號

I 439710

專利獲證名稱

內嵌於系統級封裝之被動元件測試裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2014/06/01

技術說明

本發明之主要目的係提供一種內嵌於系統級封裝之被動元件測試裝置，其利用至少一磁性物質元件在水下接觸吸附一可磁吸目標物，且該磁性物質元件連接一纜線，以達成水下標定目標物之目的。 為了達成上述目的，本發明較佳實施例之內嵌於系統級封裝之被動元件測試裝置包含： 一振盪器，其連接測試一待測電路，該待測電路包含一被動元件，以便利用該振盪器之振盪訊號響應該被動元件； 一計數單元，其連接至該振盪器，以便計數該振盪器之振盪訊號之頻率；及 一控制電路，其連接至該振盪器，以便控制該振盪器； 其中利用該振盪器之振盪訊號之頻率之正常或不正常可決定該被動元件之良品或不良品。 本發明較佳實施例之該振盪器選自一環型振盪器。 本發明較佳實施例之該環型振盪器包含數個反相器，且數個該反相器之間進行串接。 本發明較佳實施例之該控制電路連接至數個該反相器之一。 本發明較佳實施例之該計數單元選自一計數器。 本發明較佳實施例之該計數器為一非同步計數器。 本發明較佳實施例之該控制電路採用一有限狀態機。 本發明較佳實施例之該振盪器及待測電路之間連接一電阻。 本發明較佳實施例之該振盪器及待測電路之間連接一電阻及一電感。 A testing device, for a passive component embedded in SIP, includes an oscillator, a counting unit and a control circuit. The oscillator connects with a CUT which includes a passive component such that the passive component can response to oscillation signals of the oscillator. The counting unit connects with the oscillator so as to count frequencies of the oscillation signals of the oscillator. The control circuit connects with the oscillator and controls it. The function of the passive component can be examined by observing the frequency of the oscillation signal of the oscillator normal or abnormal.

備註

本部(收文號1060011881)同意該校106年2月17日中產營字第1061400161號函申請終止維護專利

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