光學參數測量裝置與光學參數測量方法Optical parameter measuring apparatus and optical parameter measuring method

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

13/339,167

專利證號

US 9,036,151 B2

專利獲證名稱

光學參數測量裝置與光學參數測量方法Optical parameter measuring apparatus and optical parameter measuring method

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2015/05/19

技術說明

本研究根據米勒矩陣方法與史托克參數提出一種方法來求有效參數(九個參數)，其參數包括主軸角度、相位延遲量、雙衰減主軸角度、雙衰減、旋光角度和旋性雙衰減角度之非等向性的光學材料值，同時也將散射材料所具有的線性非偏振(LDep)和旋性非偏振(CDep)特性也考慮在內。 在本研究中，所提出的方法並不需要雙折射軸及雙衰減軸平行亦可量測。 此外，在考慮散射物質的分析模型上，已可以將這9種特性包括：線性雙折射(LB)，旋性雙折射(CB)，線性雙衰減 (LD)，旋性雙衰減 (CD)，線性非偏振(LDep)及旋性非偏振(CDep)之所有性質分別獨立的解出來。藉由量測四分之一波片、二分之一波片、偏振片和偏振控制器來驗證本方法的可行性，其分別對應到有效參數的LB、CB、LD、CD特性。實驗結果證實本分析模型對於描述非等向性光學材料的有效參數具有可行性。就我們所知而言，用本研究的量測方法來求得非等向性的光學材料包括散射材料的所有參數(9個參數)可說是最全面的方法。 舉幾個重要應用，例如：(1) LCD補償器影片的LB測量; (2)糖尿病患者的CB測量; (3)蛋白質結構的CD測量; (4)腫瘤的LD測量; (5) 散射材料表面的 LDep和CDep特性測量等。 An optical parameter measuring apparatus for measuring optical parameters of an object includes a light source, a polarizing module, a Stokes polarimeter and a calculating module. The light source emits a light which is polarized by the polarizing module and then received by the Stokes polarimeter. According to the light information generated by the Stokes polarimeter, Mueller matrixes of linear birefringence, circular birefringence, linear diattenuation and circular diattenuation of the object, and Stokes vector established according to the Mueller matrixes, the calculating module calculates the optical parameters.

備註

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