電光調變表面電漿共振之檢測方法與檢測裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

094121443

專利證號

I273231

專利獲證名稱

電光調變表面電漿共振之檢測方法與檢測裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2007/02/11

技術說明

本發明提出一種利用電光效應調變表面電漿共振之檢測方法 與檢測裝置，其外加一電壓於具有波導區之電光晶體基板 上，以調變置放待測物的波導區之表面電漿共振條件，藉由 量測輸出電磁波強度隨外加電壓之變化，即可得知待測物中 如化學或生化物質之濃度。因不需使用頻譜儀進行表面電漿 共振波長之量測，故改善了傳統的積體光學表面電漿共振檢 測裝置受限的敏感度、高成本與使用範圍限制等問題。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360

網址