低密度同位檢查解碼器及後置處理方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100147155

專利證號

I 458267

專利獲證名稱

低密度同位檢查解碼器及後置處理方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中興大學

獲證日期

2014/10/21

技術說明

一種後置處理方法，判斷N個經過低密度同位檢查解碼後的解碼位元是否使C個檢查條件成立，當其中幾個不成立檢查條件有共同參考的解碼位元，則改變該共同參考的解碼位元值，以降低因過度量化造成的位元錯誤。進一步地，判斷改變後的解碼位元是否使C個檢查條件成立，，從每個不成立檢查條件所參考的多個解碼位元中找出至少一個較不可靠者，並調整該較不可靠者的可靠指標，再進行最後一次解碼器迭代，來決定是否更改該較不可靠解碼位元，以降低因吸收結構造成的位元錯誤。 A post processing method checks whether the C check nodes are satisfied after the N decoded bits are generated after the LDPC decoding process. When some of the check nodes are not satisfied, the corresponding variable nodes of these check nodes are searched to find if there are any decoded bits having the same variable nodes. If yes, the decoded bits are flipped to reduce bit errors due to quantization. After this process, if the unsatisfied check nodes still exist, the reliability conditions of the variable nodes corresponding to the unsatisfied check nodes are checked to find the least reliable ones. Then, the reliability indices are adjusted and an additional decoding iteration is performed to determine if the decoded bits need to be adjusted. This process can reduce bit errors owing to the absorption structure in LDPC decoders.

備註

本部(文號1090000062)同意該校108年12月31日興產字第1084300814號函申請終止維護專利(中興)

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