多頭探針及其製造與掃瞄方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

101125367

專利證號

I 474004

專利獲證名稱

多頭探針及其製造與掃瞄方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立清華大學

獲證日期

2015/02/21

技術說明

原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, 以下簡稱AFM)應用於生物活體(例如：細胞、蛋白質)試片的動態掃描，已是現今生物科學研究一廣泛且成熟的技術，除此之外AFM於水平及縱向解析度皆可達到次奈米等級的解析度。但是，傳統AFM因受限於成像原理及機台(例如：掃描器、回饋電路控制器或探針等)結構等因素，故傳統AFM完成一張高解析度的掃描圖通常都需要數分鐘以上的時間。 利用創新奈米多頭探針修飾技術，發展出多頭原子力顯微鏡探針，可在單次掃描中即時獲得多重單一分子在不同時序之動態與表面型態，此一技術可將原子力探針掃描速度從一般的分鐘等級迅速提升6萬倍至毫秒等級，而能相當接生物活體分子反應速度並觀察檢測之。 Atomic Force Microscope, used in living organisms (ex:cell, protein) and dynamic scanning of the specimen, is a bioscience research a broad and mature technology. In addition to AFM can be reached sub-nanometerlevel of the horizontal and vertical resolution. However, traditional AFM is limited by the imaging principle and the machine structure factors (ex: scanner, the feedback controller or probe). So it usually takes more than a few minutes of time to complete a high-resolution image. A novel AFM tip modified with multiple nano particles will be developed. This “multi-head AFM tip” would be used to rapidly scan over a single molecule protein and yield multiple images of the surface dynamics of the molecule in one single scan. This technique would promote the scan speed of AFM from minute/image to ms/action, significantly improving the scan speed by 4 orders of magnitude, and thus enabling the AFM real time detection of biological molecular dynamics reaction at ms level.

備註

本部(收文號：1080064215)同意該校108年9月26日清智財字第1089006309號函申請終止維護。

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