多點量測微波強度之方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

093117243

專利證號

I240798

專利獲證名稱

多點量測微波強度之方法

專利所屬機關 (申請機關)

遠東科技大學

獲證日期

2005/10/01

技術說明

本發明係關於一種能多點量測微波強度之方法，特別是指一種將偵測片置入微波環境中，利用 微波與偵測片上的薄膜感應產生電流，因尖端效應使感應電流集中於預設的路徑，進而沿路徑 破壞薄膜，使其產生肉眼明顯可見的破壞痕跡，藉此評估微波強度。使用本發明之處理方法， 僅需以簡單的製作程序和少量成本，即可滿足可看出累加效果、可置入爐內、快速、多點、即 時和便宜的偵測要求，有利於微波強度偵測，因此具有安全可靠、低成本、高使用價值和便利 等優點。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

創造力中心

連絡電話

06-5979566-7912

網址